Väisänen, Petri (2000-12-13)
AB3:Tässä diplomityössä esitellään yleisimpiä ja uusimpia piille integroitujen piirien testattavuussuunnittelussa käytettäviä menetelmiä ja strategioita. Yleisesti käytössä olevia digitaalisten ASIC-piirien testauksessa ...