.

Kirjasto - Tampereen teknillinen yliopisto

Browsing by Author "Väisänen, Petri"

Sort by: Order: Results:

  • Väisänen, Petri (2000-12-13)
    AB3:Tässä diplomityössä esitellään yleisimpiä ja uusimpia piille integroitujen piirien testattavuussuunnittelussa käytettäviä menetelmiä ja strategioita. Yleisesti käytössä olevia digitaalisten ASIC-piirien testauksessa ...