| Files | Size | Format | View |
|---|---|---|---|
|
There are no files associated with this item. |
|||
| URN: | http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200907103092 |
| Title: | System on a chip production testing |
| Author: | Väisänen, Petri |
| Publication type: | Diplomityö |
| Issue date: | 2000-12-13 |
| University: | Tampereen teknillinen korkeakoulu |
| Faculty: | Sähkötekniikan osasto |
| Department: | Digitaali- ja tietokonetekniikan laitos |
| Abstract: | AB3:Tässä diplomityössä esitellään yleisimpiä ja uusimpia piille integroitujen piirien testattavuussuunnittelussa käytettäviä menetelmiä ja strategioita. Yleisesti käytössä olevia digitaalisten ASIC-piirien testauksessa käytettäviä menetelmiä tutkitaan ja piille integroitujen järjestelmien tuomia uusia haasteita tarkastellaan sekä sulautettavien lohkojen suunnittelijan että järjestelmän integroijan näkökulmasta. Yksi monimutkaisen piille integroidun järjestelmän testattavuussuunnitteluprojekti esitellään esimerkkitapauksena. Esimerkkinä olevan järjestelmän testauksessa käytetyt menetelmät esitellään sekä saavutettuja tuloksia arvioidaan. |