Prosessiliityntäyksiköiden testauslaite
Näytä kaikki kuvailutiedot
Tiedostot
|
Tähän julkaisuun ei ole liitetty tiedostoja.
|
|
URN:
|
http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200907103159
|
|
Nimeke:
|
Prosessiliityntäyksiköiden testauslaite |
|
Tekijä:
|
Ruottinen, Heino |
|
Julkaisun tyyppi:
|
Diplomityö |
|
Julkaisuaika:
|
1981 |
|
Yliopisto:
|
Tampereen teknillinen korkeakoulu |
|
Tiedekunta:
|
Sähkötekniikan osasto |
|
Laitos:
|
Elektroniikan laitos |
|
Tiivistelmä:
|
Integraatioasteen kasvun myötä on yhden komponentin ja piirilevyn sisältämät toiminnot lisääntyneet ja tulleet monimutkaisemmiksi. Samalla tuotetuiden yksiköiden testaaminen manuaalisilla menetelmillä on käynyt hitaaksi, paljon koulutusta vaativaksi ja kalliiksi. Myöskin laatuvaatimukset ovat täsmentyneet ja tiukentuneet. Näiden seikkojen vuoksi ovat laitevalmistajat pyrkineet automaattisten testauslaitteiden käyttöön tuotannon eri vaiheissa. Tässä työssä perehdytään erilaisiin testauslaitteisiin ja niiden käyttöön tuotannossa. Tutkitaan kohdeyrityksen tehtaan testausosaston tehokkuuden lisäämisvaihtoehtoja. Tältä pohjalta rakennetaan uusi testausjärjestelmä, jolla voidaan testata ja korjata kahdeksan eniten käytettyä Damatic-järjestelmän prosessiliityntäyksikköä. Testit ovat GO/NO GO -tyyppisiä. Vikatilanteessa (NO GO) suoritettavan tulostuksen avulla pyritään helpottamaan vian paikallistamista. Testeihin kuuluu myös korjausmoodi, jonka aikana testaaja voi suorittaa mittauksia viallisen yksikön korjaamiseksi. Uudella testausjärjestelmällä lyhenevät toimivan yksikön testausajat alle 1/3:aan verrattuna vanhoihin manuaalisiin testeihin. Lisäksi testausosasto saadaan toimimaan joustavammin tuotannon kanssa. Lopulliset laitteen vaikutukset osaston toimintaan saadaan sitten kun osastolla on useampia uusia järjestelmiä käytössä. /Kir10 |
Viite kuuluu kokoelmiin:
Näytä kaikki kuvailutiedot