| Files | Size | Format | View |
|---|---|---|---|
|
There are no files associated with this item. |
|||
| URN: | http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200907103619 |
| Title: | Investigation and estimation of uncertainties in scanning probe microscopy |
| Author: | Zeinzinger, Thomas |
| Publication type: | Diplomityö |
| Issue date: | 1998-12-09 |
| University: | Tampereen teknillinen korkeakoulu |
| Faculty: | Materiaalitekniikan osasto |
| Department: | Materiaaliopin laitos |
| Abstract: | Työssä asennetaan uusi atomivoimamikroskooppi ja arvioidaan sen suorituskykyä. Työssä tutkitaan myös skannaaviin antureihin perustuvien mikroskooppien epävarmuustekijöitä. Todettiin piezosähköisen anturin olevan yksi mahdollinen syy. Toisaalta kun pinnalla on kärkeä pienempiä yksityiskohtia, syntyy kuva kärjestä, jolloin syntyy sekoitus todellisia ja vääriä kuvapisteitä. |