Characterization of deep levels in AlGaInP using deep level transient spectroscopy
Näytä kaikki kuvailutiedot
Tiedostot
|
Tähän julkaisuun ei ole liitetty tiedostoja.
|
|
URN:
|
http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200907104558
|
|
Nimeke:
|
Characterization of deep levels in AlGaInP using deep level transient spectroscopy |
|
Tekijä:
|
Tukiainen, Antti |
|
Julkaisun tyyppi:
|
Diplomityö |
|
Julkaisuaika:
|
2000-12-13 |
|
Yliopisto:
|
Tampereen teknillinen korkeakoulu |
|
Tiedekunta:
|
Sähkötekniikan osasto |
|
Laitos:
|
Fysiikan laitos |
|
Tiivistelmä:
|
Deep levels in semiconductors, which form due to perturbation in the perfect crystalline structure, are electronic states inside the materials' bandgap.This work deals with characterization of deep levels in (AlxGa1-x)yIn1-yP (AlGaInP) material system using deep level transient spectroscopy (DLTS). Some properties of deep levels are discussed and also the basic theories of two other DLTS related techniques, deep level transient Fourier spectroscopy (DLTFS) and isothermal capacitance transient spectroscopy (ICTS), are presented. /Kir10 |
Viite kuuluu kokoelmiin:
Näytä kaikki kuvailutiedot