| Files | Size | Format | View |
|---|---|---|---|
|
There are no files associated with this item. |
|||
| URN: | http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200907104587 |
| Title: | Elektronisen testauslaitteiston suunnittelu |
| Author: | Oja, Juha |
| Publication type: | Diplomityö |
| Issue date: | 1985 |
| University: | Tampereen teknillinen korkeakoulu |
| Faculty: | Sähkötekniikan osasto |
| Department: | Elektroniikan laitos |
| Abstract: | Työssä on perehdytty erilaisiin elektroniikkatuotannon eri vaiheissa käytettäviin testausmenetelmiin. Erityisesti on paneuduttu piirilevyjen automaattisten testausmenetelmien tarkasteluun. Kalustettujen piirilevyjen testaus voi tapahtua periaatteessa kahdella eri menetelmällä, jotka ovat funktionaalinen testaus ja in-circuit -testaus. Kunkin testausmenetelmän soveltuvuutta erilaisiin testaustarpeisiin sekä menetelmien hyviä ja huonoja puolia on pyritty arvioimaan alan kirjallisuuden perusteella. Lisäksi on tarkasteltu komponenttitestausta ja laitetestausta. Suunnittelu- ja konstruktio-osassa on esitelty erään kehitystukilaitepohjaisen funktionaalisen testauslaitteiston rakenne ja elektroniikkaratkaisuja. Testauslaitteisto on suunniteltu keskushuollossa tapahtuvan omavalmisteisen CPU-kortin huoltotoiminnan ja vianhaun automatisoimiseksi. Suunniteltu testeri käyttää testauksessa myös emulointia ja tunnisteanalyysiä. Lopuksi esitetään suunnitellun testauslaitteiston ohjelmiston rakenne ja ohjelmiston eri lohkojen toiminnat pääpiirteissään. /Kir09 |