Kirjasto - Tampereen teknillinen yliopisto

Taajuusmuuttajan testauksen tehostaminen

Show simple item record

Title: Taajuusmuuttajan testauksen tehostaminen
Author: Haapala, Mari
Abstract: ACS600-sarjan taajuusmuuttajan valmistusprosessin aikana laitteen sähköinen testaus tapahtuu monessa eri vaiheessa alkaen tuotekehityksen aikaisesta prototyyppien testauksesta päättyen kokoonpanon jälkeiseen lopputestaukseen. Kunkin vaiheen yhteydessä testaus aiheuttaa kustannuksia, jotka kasvavat sitä enemmän mitä myöhäisemmässä vaiheessa mahdollinen viallinen laite havaitaan. Testausta tehostamalla voidaan turhien vikatapausten pääsyä valmistusprosessin loppuvaiheisiin karsia ja näin aikaansaada luotettavia ja laadukkaita tuotteita loppukäyttäjille. Erityisesti näin voidaan ajatella taajuusmuuttajan keskeisimpien komponenttien, piirikorttien, osalta. Koska piirikorttien valmistus ja kokoonpano tapahtuu alihankkijan toimesta, on oleellista vaatia, että toimittajan laatu vastaa yrityksen vaatimuksia ja testaus on mahdollisimman kattava jo piirikorttitehtaalla. Työssä on tarkasteltu nykyään vallitsevia testauskäytäntöjä lähinnä piirikorttien osalta sekä tehty huomioita lopputestausta koskien. Tarkastelunpainopiste on siinä, millaisia vaihtoehtoja esimerkiksi piirikorttialihankkijoilla voitaisiin testauksen osalta toteuttaa ja millaisia näkökohtia lopputestauksessa käytettävässä rasitustestauksessa tulisi ottaa huomioon. Tehostamiselle on löydettävissä monta eri toteutustapaa, eikä yhtä ainoaa ja oikeaa ratkaisua ole olemassa. Tehostaminen voi muun muassa tarkoittaa testauksen lisäämistä piirikorttivalmistajalla ja/tai lopputestauksen ajallista lyhentämistä. Piirikorttialihankkijasta riippuen erilaisten automaattisten testausmenetelmien käyttöönottoa perinteisten testausmenetelmien rinnalle tulee harkita. Lisäksi mahdollisuus piirikorttien vanhennukseen jo toimittajalla tulee huomioida, mikäli se kustannusratkaisultaan saadaan kannattavaksi. Lopputestausta kokoonpanolinjalla voidaan ajallisesti lyhentää, kun tuotanto on päässyt hyvin käyntiin ja viallisten laitteiden määrä vähenee. Tällöin testausajan lyhentäminen olisi mahdollista toteuttaa ja ottaa tilalle esimerkiksi otostyyppisiä testejä, jotta laadun toteutumista voidaan edelleen tehokkaasti seurata. /Kir10
Comment: TTY:n kirjastossa laadittu tiivistelmä
Issue date: 2001-03-21
URN: http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200907105151
Publication type: Diplomityö
Language: fin
Pages: 58 s. + liitt. 3 s
Subject: taajuusmuuttajatvalmistustestauspiirikortit
Examiner: Kivikoski, Markku
University: Tampereen teknillinen korkeakoulu
Faculty: Sähkötekniikan osasto
Department: Elektroniikan laitos
Degree Programme:

Files in this item

Files Size Format View

There are no files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search TUT DPub


Advanced Search

Browse

My Account

Statistics