|
Abstract:
|
Elektroenkefalografiassa (EEG) aivojen sähköistä toimintaa rekisteröidään päänpinnalta. EEG on yleinen aivotoimintojen mittaus- ja tutkimusmenetelmä. Perinteisellä 21 elektrodin mittausjärjestelmällä ei kuitenkaan saavuteta hyvää paikkaresoluutiota. Elektrodeja lisäämällä pyritään saamaan maksimaalinen paikkaresoluutio. Pään pinnalta mitattujen signaalien lähteiden tarkka paikantaminen edellyttää käänteisongelman ratkaisua. Työssä tutkittiin EEG:n käänteisongelmaa, jossa lähteet mallinnettiin potentiaalijakautumana aivojen pinnan muodostamalla suljetulla pinnalla. Tarkoituksena oli tutkia lähteiden paikannettavuutta ja selvittää käänteisongelman ratkaisun tarkkuutta tietyillä elektrodijärjestelmillä. Työssä tarkasteltiin yleisimpiä järjestelmiä. Näihin kuuluivat standardi 10-20 järjestelmä sekä järjestelmät, jotka koostuivat 64, 128 sekä 256 elektrodista. Lisäksi tarkasteltiin järjestelmää, joka koostui 512 mittauselektrodista. Työ koostui kahdesta eri vaiheesta, Ensimmäisessä kehitettiin menetelmät, joilla alkuperäinen FDM -malli saatiin yksinkertaistettua sekä muokattua sellaiseksi, että sen avulla voitiin tutkia käänteisongelmaa. Toisessa vaiheessa EEG:n käänteisongelman ratkaistavuutta tutkittiin muodostetun FDM -mallin avulla. Saatujen tulosten perusteella jopa 512 elektrodin käyttö parantaa käänteisongelman ratkaisun tarkkuutta pienillä mittauskohinan arvoilla. Tuloksista käy myös ilmi, että mittauskohinan kasvaessa tiheämmän elektrodisysteemin paremmuus harvempaan elektrodijärjestelmään verrattuna pienenee. /Kir10 |