Kirjasto - Tampereen teknillinen yliopisto

Yleiskäyttöinen testikortti mixed-signal ASIC-piirien kehitystestaukseen

Show full item record

Files in this item

Files Size Format View

There are no files associated with this item.

URN: http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200907106399
Title: Yleiskäyttöinen testikortti mixed-signal ASIC-piirien kehitystestaukseen
Author: Ilves, Teemu
Publication type: Diplomityö
Issue date: 2001-08-22
University: Tampereen teknillinen korkeakoulu
Faculty: Sähkötekniikan osasto
Department: Elektroniikan laitos
Abstract: Tavoitteena oli suunnitella mixed-signal ASIC-piirienprotovaiheen laboratoriotestaukseen soveltuva, väyläohjattava testikortti. Korttia ontarkoitus käyttää osana PC:n Lab VIEW-käyttöliittymällä ohjattavaa automatisoitua mittapaikkaa, joka koostuu GPIB-väyläohjattavista mittalaitteista. Testikortintehtävänä on suorittaa sellaisia toimintoja, joita muilla käytettävissä olevilla mittalaitteilla ei voida toteuttaa, kuten ASIC:n digitaaliväylien ajoituskriittinen ohjaus ja tarkkojen D/A-muunnosten lähettäminen taulukosta. Testikortin ytimenä toimii FPGA eli ohjelmoitava logiikkapiiri, joka tulkitsee ohjausväylän komennot ja ohjaa sen perusteella kortin eri lohkoja, kuten A/D- ja D/A-muuntimia sekä digitaalilähtöjä ja -tuloja. Sarjaportin tiedonsiirtonopeus ei ollut rajoittava tekijä, koska ajoituskriittiset toiminnot tehdään puskuroidusti FPGA-piirinsisäistä RAM-muistia hyödyntäen. Työn tuloksena syntyi vaativa, yli 700 komponenttia sisältävä mixed-signal piirikortti. /Kir10


This item appears in the following Collection(s)

Show full item record

Search TUT DPub


Advanced Search

Browse

My Account

Statistics