Yleiskäyttöinen testikortti mixed-signal ASIC-piirien kehitystestaukseen

Abstract

Tavoitteena oli suunnitella mixed-signal ASIC-piirienprotovaiheen laboratoriotestaukseen soveltuva, väyläohjattava testikortti. Korttia ontarkoitus käyttää osana PC:n Lab VIEW-käyttöliittymällä ohjattavaa automatisoitua mittapaikkaa, joka koostuu GPIB-väyläohjattavista mittalaitteista. Testikortintehtävänä on suorittaa sellaisia toimintoja, joita muilla käytettävissä olevilla mittalaitteilla ei voida toteuttaa, kuten ASIC:n digitaaliväylien ajoituskriittinen ohjaus ja tarkkojen D/A-muunnosten lähettäminen taulukosta. Testikortin ytimenä toimii FPGA eli ohjelmoitava logiikkapiiri, joka tulkitsee ohjausväylän komennot ja ohjaa sen perusteella kortin eri lohkoja, kuten A/D- ja D/A-muuntimia sekä digitaalilähtöjä ja -tuloja. Sarjaportin tiedonsiirtonopeus ei ollut rajoittava tekijä, koska ajoituskriittiset toiminnot tehdään puskuroidusti FPGA-piirinsisäistä RAM-muistia hyödyntäen. Työn tuloksena syntyi vaativa, yli 700 komponenttia sisältävä mixed-signal piirikortti. /Kir10